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EDS_SEM_EBSD_掃描電鏡_原位拉伸_原位拉壓_西安博鑫科技有限公司 業(yè)務(wù)經(jīng)理:王經(jīng)理 18838738778 技術(shù)主管:谷工 18729509209 地 址:陜西省西安市高新區(qū)團結(jié)南路 35號研發(fā)中心
掃描電鏡的用途有哪些?
掃描電鏡對大多數(shù)人來說是很陌生的,對其不是很了解,西安博鑫科技有限公司利用**知識為大家講解下,掃描電鏡(SEM)是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段,可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。
掃描電鏡的優(yōu)點:
①有較高的放大倍數(shù),2-20萬倍之間連續(xù)可調(diào);
②有很大的景深,視野大,成像富有立體感,可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結(jié)構(gòu);
③試樣制備簡單。目前的掃描電鏡都配有X射線能譜儀裝置,這樣可以同時進行顯微組織形貌的觀察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究儀器。
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